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MOS管漏源擊穿電壓BVDS

      MOS管是金屬(metal)—氧化物(oxid)—半導體(semiconductor)場效應晶體管。或者稱是金屬—絕緣體(insulator)—半導體。MOS管的source和drain是可以對調的,都是在P型backgate中形成的N型區。在多數情況下,這個兩個區是一樣的,即使兩端對調也不會影響器件的性能。這樣的器件被認為是對稱的。
 
 MOS管漏源擊穿電壓BVDS

·在VGS=0(增強型)的條件下 ,在增加漏源電壓過程中使ID開始劇增時的VDS稱為漏源擊穿電壓BVDS

·ID劇增的原因有下列兩個方面:

(1)漏極附近耗盡層的雪崩擊穿

(2)漏源極間的穿通擊穿

      有些MOS管中,其溝道長度較短,不斷增加VDS會使漏區的耗盡層一直擴展到源區,使溝道長度為零,即產生漏源間的穿通,穿通后,源區中的多數載流子,直接受耗盡層電場的吸引,到達漏區,產生大的ID。除了以上產品外,公司同時還供應有三端穩壓芯片、穩壓管等產品,我們公司具備有*實戰的技術,專業的運營團隊,為您創造以用戶體驗為前提的服務,服務的至善至美是我們永無止境的追求。因為以民為本,所以值得信賴;因為專業專職,所以值得選擇.以上信息僅供參考,詳情請致電相關工作人員為您解答。 
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